松下产品 | 有助于制造工程的质量改善,透过型数字位移传感器

2020-12-02 15:10

 

透过型数字位移传感器HG-T实现了业界领先的重复精度:1μm高精度测量(※1)。

通过弯曲控制(※2)精度提升,有助于锂电池、半导体和液晶制造工程的质量改善。

※1:防止片材或薄膜在制造过程中弯曲并造成产品缺陷,控制监测片材是否弯曲、测量片材两端的位置。

※2:确保制造工程中片材和薄膜的两端位置保持不变,控制操作、完成自动修正。


■ 主要特点

1、业界领先的高精度测量

实现业界领先的重复精度1μm的高精度测量,可在锂电池、电池卷绕机部中提升弯曲控制的精度、有助于制造工程的质量改善。

 

 

2、可安装在有限空间内的超薄型尺寸

传感器头部的受光端备有「标准型」和「窄长型」 。

没有光轴调整指示灯的「窄长型」,可以安装在装置内等有限空间内,有助于制造装置的小型化。

另外备有搭载光轴调整指示灯的「标准型」,设置简单、可配合客户用途进行选择。

 

 

 

3、备有光轴调整辅助功能、传感器光头设置简单

控制器配备光轴调整辅助功能,可以通过传感器光头的指示灯及控制器上的显示部,对传感器光头的位置偏移简便进行设置调整。

■ 用途

 

■ 规格

透过型数字位移传感器 HG-T相关网页:

https://device.panasonic.cn/ac/c/fasys/measurement/measurement/hg-t/index.jsp?referer_url=HG-TWeChat202011


(审核编辑: 智汇lucy)

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